Microfocus CT adalah-teknologi pencitraan 3D resolusi tinggi berdasarkan sinar X-. Keunggulan intinya terletak pada resolusi tingkat-tingkat mikrometer atau bahkan sub-mikrometer-yang memungkinkan pemeriksaan yang tidak-destruktif dan tepat terhadap struktur internal objek. Ini banyak digunakan dalam ilmu material, inspeksi industri, biomedis, dan bidang lainnya.
Perangkat keras inti CT mikrofokus mencakup sumber sinar X-mikrofokus, tahap rotasi sampel, dan detektor sensitivitas{1}tinggi. Setelah sinar X-menembus sampel, detektor menerima data proyeksi dari berbagai sudut dan menghasilkan model 3D struktur internal sampel melalui algoritma rekonstruksi 3D. Sumber sinar X-mikrofokus (biasanya dengan ukuran fokus 1-5 mikrometer) secara signifikan meningkatkan resolusi gambar, memungkinkan pengambilan detail terkecil.
Pencitraan-resolusi tinggi: Dengan mengurangi ukuran fokus sumber sinar X-dan meminimalkan distorsi geometris, resolusi sub-mikrometer dapat dicapai, jauh melebihi resolusi CT. 1. Non-destruktif konvensional: Analisis visual struktur internal (seperti pori-pori, retakan, delaminasi, dll.) dapat dicapai tanpa merusak sampel. 2. Kemampuan analisis kuantitatif: Dikombinasikan dengan perangkat lunak, parameter seperti kepadatan, porositas, dan dimensi geometris dapat diukur, sehingga cocok untuk pengendalian kualitas dan analisis penelitian ilmiah.
